Одностороннее косое освещение.

 

При этом способе освещения узкий пучок света при эксцентричном положе-

 

Рис. 1 Принципиальная схема освещения для создания светлого поля.

1 – окулярная диафрагма; 2 – собирающая линза; 3 – полупрозрачное зеркало; 4 – падающие лучи; 5 – объектив; 6 – объект; 7 – отраженные лучи.

 

Рис. 2 Принципиальная схема освещения для создания темного поля.

1 – окулярная диафрагма; 2 – отраженные лучи; 3 –зеркало; 4 – отражательный конденсор; 5 – объект; 6 – объектив; 7 – падающие лучи.

 

 

нии апертурной диафрагмы падает (с одной стороны) через объектив под углом на поверхность шлифа. Применяют для определения различий по высоте травленой поверхности шлифа.

 

Поляризованный свет.

 

Поляризованный свет используют для исследования анизотропных металлов и структурных составляющих (смеси кристаллов и соединений) в нетравленом виде. Эффект поляризации зависит главным образом от средств полирования, от вида полировки и от ее качества.

Все вещества, кристаллизующиеся в кубической системе, и аморфные материалы являются оптически изотропными. Все вещества, кристаллизующиеся в других системах, относятся к оптически анизотропным материалам. Изотропные вещества дают одинарное лучепреломление.

 

Метод фазового контраста (МФК).

 

Характеризуется повышенной глубиной резкости.

Различают позитивный фазовый контраст - более глубокие места объекта кажутся темнее и негативный фазовый контраст - светлее, чем их окружение.

С помощью МФК можно распознавать структуру на травленных и нетравленых образцах, картина рельефа которых не четкая и структурные составляющие неразличимы при других способах освещения.

Порядок проведения работы.

 

1. По описанию ознакомиться с конструкцией металлографического микроскопа.

2. Провести исследования поверхности нетравленого шлифа в светлом и темном поле. Выявить качество подготовки поверхности.

3. Провести исследование поверхности протравленного шлифа в светлом и темном поле, а также при одностороннем косом освещении. Обратить внимание на разницу полученной картин шлифа.

4. Произвести фотосъемку поверхности шлифа в темном и светлом поле и при одностороннем косом освещении.

5. Проявить пленку. Получить фотографии.

6. Проанализировать полученные результаты.

 

 

Требования к отчету.

 

1. Дать краткую характеристику используемого оптического оборудования

2. Охарактеризовать виды просмотра шлифов.

3. По полученным результатам рекомендовать области использования исследований в светлом, темном поле и при одностороннем косом освещении.