| № | Содержание |
| Работа 1 | Определение структуры кристаллов по дифракции рентгеновских лучей. |
| Работа 2 | Бесконтактный метод определения удельного сопротивления. |
| Работа 3 | Определение ширины запрещенной зоны из температурной зависимости проводимости. |
| Работа 4 | Определение времени жизни носителей заряда в полупроводнике. |