Введення

Атомно-силовий мікроскоп

Атомно-силовий мікроскоп (АСМ, англ. AFM - atomic-force microscope ) - скануючий зондовий мікроскоп високої роздільної здатності. Використовується для визначення рельєфу поверхні з дозволом від десятків ангстрем аж до атомарного.
На відміну від скануючого тунельного мікроскопа, за допомогою атомно-силового мікроскопа можна досліджувати як провідні, так і непровідні поверхні.