рефераты конспекты курсовые дипломные лекции шпоры

Реферат Курсовая Конспект

Принцип роботи

Принцип роботи - раздел История, Історія винаходу атомно-силового мікроскопа ...

Схема роботи атомно-силового мікроскопа

Графік залежності сили Ван-дер-Ваальса від відстані між кантільовери і поверхнею зразка

Принцип роботи атомно-силового мікроскопа заснований на реєстрації силового взаємодії між поверхнею досліджуваного зразка і зондом. Як зонда використовується нанорозмірні вістря, що розташоване на кінці пружною консолі, званої кантільовери. Сила, діюча на зонд з боку поверхні, призводить до вигину консолі. Поява височин або западин під вістрям призводить до зміни сили, що діє на зонд, а значить, і зміні величини вигину кантільовери. Таким чином, реєструючи величину згину, можна зробити висновок про рельєф поверхні.

Під силами, що діють між зондом і зразком, в першу чергу мають на увазі дальнодействующіх сили Ван-дер-Ваальса, які спочатку є силами тяжіння, а при подальшому зближенні переходять в сили відштовхування.
Залежно від характеру дії сили між кантільовери і поверхнею зразка виділяють три режими роботи атомно-силового мікроскопа:

1. Контактний (англ. contact mode)

2. "Полуконтактний" (англ. semi-contact mode або tapping mode)

3. Безконтактний (англ. non-contact mode)

Тут необхідно пояснити, що саме береться за нуль відстані щоб уникнути плутанини. На наведеному малюнку нуль відповідає нульовому відстані між ядрами атома на поверхні і найбільш виступаючого атома кантільовери. Тому нуль сили знаходиться на кінцевій відстані, відповідному кордоні електронних оболонок цих атомів (при перекритті оболонок виникає відштовхування). Якщо взяти за нуль кордону атомів, то сила звернеться в нуль в нулі відстані.

– Конец работы –

Эта тема принадлежит разделу:

Історія винаходу атомно-силового мікроскопа

Введення Історія винаходу Принцип роботи Контактний режим роботи атомно силового мікроскопа Безконтактний режим роботи... Примітки Література Введення... Полуконтактний режим роботи атомно силового мікроскопа...

Если Вам нужно дополнительный материал на эту тему, или Вы не нашли то, что искали, рекомендуем воспользоваться поиском по нашей базе работ: Принцип роботи

Что будем делать с полученным материалом:

Если этот материал оказался полезным ля Вас, Вы можете сохранить его на свою страничку в социальных сетях:

Все темы данного раздела:

Введення
Атомно-силовий мікроскоп Атомно-силовий мікроскоп (АСМ, англ.

Сторія винаходу
Атомно-силовий мікроскоп був створений в 1986 Гердом Бінніг, Кельвіном Куейтом і Крістофером Гербером в США, як модифікація винайденого ранішескануючого тунельного мікроскопа. Для визначення р

Контактний режим роботи атомно-силового мікроскопа
При роботі в контактному режимі атомно-силовий мікроскоп є аналогом профілометра. Вістря кантільовери знаходиться в безпосередньому контакті між зразком і поверхнею. Сканування здійснюється, я

Безконтактний режим роботи атомно-силового мікроскопа
При роботі в безконтактному режимі пьезовібратором збуджуються коливання зонда на деякій частоті (найчастіше, резонансної). Сила, що діє з боку поверхні, призводить зрушенню амплітудно-частотної і

Нші сили
Незважаючи на те, що при описі роботи атомно-силового мікроскопа, дуже часто згадуються лише сили Ван-дер-Ваальса, в реальності з боку поверхні також діють пружні сили і сили адгезії. Їхній внесок

Конструкція атомно-силового мікроскопа
Основними конструктивними складовими атомно-силового мікроскопа є: Жорсткий корпус, що утримує систему Держатель зразка, на якому зразок згодом закріплюється Пристр

Особливості роботи
У порівнянні з растровим електронним мікроскопом (РЕМ) атомно-силовий мікроскоп має низку переваг. Так, на відміну від РЕМ, який дає псевдотрехмерной зображення поверхні зразка, АСМ дозволяє отрима

Сучасний стан та розвиток скануючої зондової мікроскопії
В даний час скануючий зондові мікроскопи знайшли застосування практично у всіх галузях науки. У фізиці, хімії, біології використовують як інструмент дослідження АСМ. Зокрема, такі міждисциплінарні

Цікаві слідства
Маніпулятор АСМ і СТМ дозволяє при габаритах в кілька сантиметрів пересувати голку з роздільною здатністю краще 0,1 . Якби промисловий робот мав подібної точністю переміщень при габаритах близько м

Особливість-орієнтоване сканування
Особливість-орієнтоване сканування (ООС, англ. FOS - feature-oriented scanning ) [1] [2] [3] [4] - спосіб прецизійного вимірюванн

Хотите получать на электронную почту самые свежие новости?
Education Insider Sample
Подпишитесь на Нашу рассылку
Наша политика приватности обеспечивает 100% безопасность и анонимность Ваших E-Mail
Реклама
Соответствующий теме материал
  • Похожее
  • Популярное
  • Облако тегов
  • Здесь
  • Временно
  • Пусто
Теги