рефераты конспекты курсовые дипломные лекции шпоры

Раздел История
/
Конструкція атомно-силового мікроскопа

Реферат Курсовая Конспект

Выберите учебное заведение

Конструкція атомно-силового мікроскопа

Конструкція атомно-силового мікроскопа - раздел История, Історія винаходу атомно-силового мікроскопа Основними Конструктивними Складовими Атомно-Силового Мікроскопа Є: ...

Основними конструктивними складовими атомно-силового мікроскопа є:

Жорсткий корпус, що утримує систему
Держатель зразка, на якому зразок згодом закріплюється
Пристрої маніпуляції

Залежно від конструкції мікроскопа можливий рух зонда щодо нерухомого зразка або рух зразка, щодо закріпленого зонда.
Маніпулятори діляться на дві групи. Перша група призначена для "грубого" регулювання відстані між кантільовери і зразком (діапазон руху порядку сантиметрів), друга - для прецизійного переміщення в процесі сканування (діапазон руху порядку мікрон).
Як прецизійних маніпуляторів (або сканерів) використовуються елементи з п'єзокераміки. Вони здатні здійснювати перемещанія на відстані порядку ангстрем, проте їм притаманні такі недоліки, як термодрейф, нелінійність, гістерезис, крип.

Зонд
Система реєстрації відхилення зонда

Існує декілька можливих систем:

-Оптична (включає лазер і фотодіод, найбільш поширена)

-Інтерферометрична (складається з лазера і оптоволокна)

-Ємнісна (вимірюється зміна ємності між кантільовери і розташованої вище нерухомою пластиною)

-Тунельна (історично перша, реєструє зміну тунельного струму між проводять кантільовери і розташованої вище тунельної голкою)

Система зворотного зв'язку
Керуючий блок з електронікою

Развернуть

Открыть в широком формате

– Конец работы –

Эта тема принадлежит разделу:

Історія винаходу атомно-силового мікроскопа

Введення Історія винаходу Принцип роботи Контактний режим роботи атомно силового мікроскопа Безконтактний режим роботи... Примітки Література Введення... Полуконтактний режим роботи атомно силового мікроскопа...

Если Вам нужно дополнительный материал на эту тему, или Вы не нашли то, что искали, рекомендуем воспользоваться поиском по нашей базе работ: Конструкція атомно-силового мікроскопа

Что будем делать с полученным материалом:

Если этот материал оказался полезным ля Вас, Вы можете сохранить его на свою страничку в социальных сетях:

Все темы данного раздела:

Введення
Атомно-силовий мікроскоп Атомно-силовий мікроскоп (АСМ, англ.

Сторія винаходу
Атомно-силовий мікроскоп був створений в 1986 Гердом Бінніг, Кельвіном Куейтом і Крістофером Гербером в США, як модифікація винайденого ранішескануючого тунельного мікроскопа. Для визначення р

Принцип роботи
Схема роботи атомно-силового мікроскопа

Контактний режим роботи атомно-силового мікроскопа
При роботі в контактному режимі атомно-силовий мікроскоп є аналогом профілометра. Вістря кантільовери знаходиться в безпосередньому контакті між зразком і поверхнею. Сканування здійснюється, я

Безконтактний режим роботи атомно-силового мікроскопа
При роботі в безконтактному режимі пьезовібратором збуджуються коливання зонда на деякій частоті (найчастіше, резонансної). Сила, що діє з боку поверхні, призводить зрушенню амплітудно-частотної і

Нші сили
Незважаючи на те, що при описі роботи атомно-силового мікроскопа, дуже часто згадуються лише сили Ван-дер-Ваальса, в реальності з боку поверхні також діють пружні сили і сили адгезії. Їхній внесок

Особливості роботи
У порівнянні з растровим електронним мікроскопом (РЕМ) атомно-силовий мікроскоп має низку переваг. Так, на відміну від РЕМ, який дає псевдотрехмерной зображення поверхні зразка, АСМ дозволяє отрима

Сучасний стан та розвиток скануючої зондової мікроскопії
В даний час скануючий зондові мікроскопи знайшли застосування практично у всіх галузях науки. У фізиці, хімії, біології використовують як інструмент дослідження АСМ. Зокрема, такі міждисциплінарні

Цікаві слідства
Маніпулятор АСМ і СТМ дозволяє при габаритах в кілька сантиметрів пересувати голку з роздільною здатністю краще 0,1 . Якби промисловий робот мав подібної точністю переміщень при габаритах близько м

Особливість-орієнтоване сканування
Особливість-орієнтоване сканування (ООС, англ. FOS - feature-oriented scanning ) [1] [2] [3] [4] - спосіб прецизійного вимірюванн