| Nпп | Содержание раздела | № стр. |
| 1. | Введение | |
| 2. | Собственное поглощение света в полупроводниках | |
| 3. | Методы измерений коэффициента пропускания образцов в виде пластин | |
| 4. | Описание экспериментальной установки | |
| 5. | Задание | |
| 6. | Порядок выполнения работы | |
| 7. | Контрольные вопросы | |
| Литература |
Тема работы:определение ширины запрещенной зоны полупроводников по спектральной зависимости коэффициента поглощения света
Приборы и оборудование: в работе используются приборы и оборудование, указанные в таблице 1.
Таблица 1
Приборы и оборудование, используемые в лабораторной работе №8
| № пп | Наименование прибора | Краткая характеристика |
| Блок питания осветителя монохроматора – | Трансформатор ТПП-50, выходное напряжение 12 В, сила тока 8 А | |
| Монохроматор МДР-3 | Диапазон длин волн с набором сменных дифракционных решеток 0,2-2 мкм | |
| Вольтметр Щ31 | Измеряемое постоянное напряжение 10 мкв – 500 В, измеряемый постоянный ток 0,1 нА – 10 А |
Цель работы:определение ширины запрещенной зоны полупроводников на основании записи спектра поглощения света.
Содержание работы:
Форма отчетности студентов: индивидуальный отчет в лабораторном журнале студента.
Содержание отчета:
В отчете по лабораторной работе должны содержаться: цель лабораторной работы,функциональная схемадляизмерения ширины запрещенной зоны полупроводника, спектральная зависимость коэффициента поглощения полупроводника, величина ширины запрещенной зоны, выводы по работе.
Длительность работы: 4 академических часа.
Защита работы: собеседование с преподавателем по контрольным вопросам, выполнение индивидуальных заданий.