РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ

Рентгеновскому излучению, подобно всем другим волнам, свойственно явление дифракции. В 1912 г. Лауэ и сотрудники его лаборатории обнаружили, что в качестве дифракционной решетки при этом могут быть использованы кристаллы. Ясно, что явление дифракции при этом будет иметь пространственный характер, и расчет дифракционной картины будет представлять собой решение трехмерной задачи. Вульф и Брэгг предложили рассматривать кристалл как семейство параллельных кристаллографических плоскостей с постоянным межплоскостным расстоянием d, расположение атомов на которых упорядочено. Если на систему таких атомных плоскостей под углом скольжения θ падает пучок рентгеновского излучения с длиной волны λ, то интерференционный максимум k-ого – порядка будет наблюдаться при условии:

 

kλ = 2dsinΘ. (11)

 

Дифракция рентгеновских лучей находит два основных применения: для исследования спектрального состава рентгеновского излучения – рентгеновская спектроскопия и для изучения структуры твердых тел, в том числе и тел органической природы – рентгеноструктурный анализ.