Концентрацией собственных носителей заряда называют количество носителей заряда (электронов и дырок) в единице объема вещества.
Для не узкозонных полупроводников и для не очень высокой температуры действительна статистика Максвелла-Больцмана. То есть с ростом температуры разрушаются связи между атомами и освобождаются электроны и дырки. Их концентрация равняется:
(4.18)
где NC,NВ – количество эффективных уровней в зоне проводимости и в валентной зоне, соответственно; К - постоянная Больцмана, Т - абсолютная температура.
Зависимость (4.18) чаще представляют в координатах lnni=¦(1/T). Прологарифмируем выражение (4.18):
(4.19)
Поскольку первое слагаемое практически от температуры не зависит, то в координатах ln ni =¦(1/T) будем иметь прямую линию с наклоном равным DE/2K (рис.4.10). Если экспериментально снять зависимость ni = ¦(T), построить ее в координатах ln ni =¦(1/T), то измеряя наклон прямой, можно рассчитать ширину запрещенной зоны.