Зависимость ширины запрещенной зоны полупроводников IV группы и соединений АIIIBV от давления.

Известно, что в Si , в Ge, GaAs .

Генезис спектра энергии в п/п 4 группы и соединений А3В5.

Формируется 4 эквивалентных валентных связи в результате sp3-гибридизации. ГЦК базис состоит из 2-х атомов => в элементарной ячейке 2 атома.

 

В связь могут войти волновые функции со знаком + или -

 

Антисвязывающая(ас) комбинация

 

 

Связывающая(с) комбинация

 

Для изолированных атомов имеем 2 вырожденных уровня.

 

Соответствует различному распределению электронной плотности

 

Если их этих ячеек собрать кристалл, то зоны будут расщепляться и дальше. Эти 2 уровня (а) и (ас) порождают 2 зоны спектра кристалла.

Полностью пустая зона

 

       
   
 
Eg
 

 


Полностью заполненная зона.

 

Если проложить внешнее всестороннее давление, то межатомное расстояние уменьшается, <0, и начинают сближаться, перекрытие зон увеличивается, уровни начинают расталкиваться (это явление стремится увеличить запрещенную зону), зоны уширяются(стремиться уменьшить запрещенную зону). В Si преобладает уменьшение запрещенной зоны, в Ge, наоборот, увеличение.


27. Зависимость ширины запрещенной зоны полупроводников IV группы и соединений А3В5 от температуры (Eg(t)).

С ростом температуры материал испытывает тепловое расширение (то есть увеличение температуры эквивалентно уменьшению давления), межатомное расстояние а увеличивается, но во всех п/п при увеличении Т Eg уменьшается, т.к. изменяется не только а, меняются:

1. Тепловое расширение эквивалентно зависимости Eg(р).

2. Эффективное сглаживание периодического потенциала (описывается фактором Дебая-Уолера). Eg уменьшается.

3. Электрон-фононное взаимодействие(самый существенный фактор).

Если рассматривать чисто электронную подсистему, то Eg – это энергия, необходимая электрону для перехода с Ev на Ec. =>Eg=Еcv. Вероятность этого перехода: .

Учтем электронно-фононное взаимодействие: электроны+фононы, тогда вероятность , где F = E-TS – свободная энергия, P-вероятность перехода, <, где изменение энтропии, связано с изменением связи из орбитали С(связывающей) к АС (антисвязывающей). С орбитали более жесткие, АС более рыхлые.

,

Этот фактор доминирует и при повышении Т ширина запрещенной зоны уменьшается. .

 
Si 1.17
Ge 0.74
GaAs 1.52