Анализ точечных диаграмм. Дано точечные диаграммы результатов многократных измерений рис.16 каждый из рисунков две серии измерений одной ФВ. Требуется Для каждой серии определить наличие и характер тенденцию изменения результатов, провести аппроксимирующие линии и оценить все возможные количественные характеристики погрешностей измерений общий размах результатов, размах случайных составляющих погрешности измерений, накопленную, систематическую составляющую иили амплитуду систематической составляющей погрешности измерений.
Рис.16. Рассмотрим точечные диаграммы результатов многократных измерений одной физической величины различными методами МВИ 1 и МВИ 2 Рис.17. В первом случае монотонная тенденция изменения результатов свидетельствует о наличии прогрессирующей систематической погрешности.
Отклонение диаграммы от аппроксимирующей линии говорит также о наличие и случайной погрешности.
На диаграмме показаны два значения рассеяния результатов общий размах R 1, обусловленный комплексным влиянием систематической и случайной погрешностей, и свободный от прогрессирующих систематических погрешностей размах R1, вызванный случайными отклонениями результата от аппроксимирующей линии.
Для определения значения размаха R1 через наиболее удаленные от аппроксимирующей линии вверх и вниз точки проведены две эквидистанты. Во втором случае имеется только случайная погрешность, т.к. аппроксимирующей линией является прямая, параллельная оси абсцисс. На диаграмме показано рассеяние результатов R2, обусловленное воздействием случайной погрешности. Для определения значения размаха R2, как и в предыдущем случае, через наиболее удаленные от аппроксимирующей линии вверх и вниз точки проведены две эквидистанты.
В обеих сериях отсутствуют грубые погрешности измерений. Сходимость, определяемая размахом результатов, во второй серии будет выше, чем в первой. Сходимость первой серии измерений может быть повышена за счет исключения систематической погрешности. Характер и положение аппроксимирующих линий в сериях не совпадают в первой серии измерений есть прогрессивная тенденция изменения результатов, во второй она отсутствует. Размахи отклонений в сериях R1 и R2 примерно одинаковы, но значимые различия результатов обусловлены большим неисправленным размахом R 1 и относительными смещениями аппроксимирующих линий.
Следовательно воспроизводимость измерений будет низкой. 4. Анализ применяемых шкал в ходе выполнения задания Таблица6.Анализ шкал. ПриборДиапазонПовторяемостьПогрешностьВи д шкалыВискозиметр с падающим шариком AMVn от 0.3 до 2 500 мПас 0.1 Шкала отношений Вискозиметр Solartron 7827 От 1 до 12500сПз 0.50.2сПз для поддиапазона от 0.5до10сПз 1.0 от полной шкалы для поддиапазонов 1-100сПз 100-1000сПз 1000-20000сПз Шкала отношений Вискозиметр Solartron 7829 От 1 до 12500сПз 0.50.2сПз для поддиапазона от 0.5 до 10сПз 1.0 от полной шкалы для остальных поддиапазонов Шкала отношений Данные вискозиметры имеют шкалу отношений.
Рассмотренные выше вискозиметры обладают хорошими точностными характеристиками, поэтому я предлагаю использовать их каждый для своего предназначения и сообразуясь с технологическими и другими требованиями.