ПРОБЛЕМЫ И ПЕРСПЕКТИВЫ ПОВЫШЕНИЯ ТОЧНОСТИ ИЗМЕРЕНИЯОПТОЭЛЕКТРОННЫМИ МНОГОКАНАЛЬНЫМИ СИСТЕМАМИ ДЕТАЛЕЙ С ЗАГРЯЗНЕННОЙ ПОВЕРХНОСТЬЮ.Применение информационныхтехнологий как средство повышения качества выпускаемой продукции находит всеболее широкое применение в машино- и станкостроении, особенно в областиконтроля линейных и угловых размеров.В настоящее время в областиприменения оптоэлектронных средств контроля линейных и угловых размеровактуальной является задача снижения погрешности измерения, вносимой наличиемпленки смазочно-охлаждающей жидкости на поверхности измеряемой детали.
Безкачественной очистки поверхности измеряемой детали точность измерения можетбыть неудовлетворительной.Качественная же очистка поверхности детали возможналишь в условиях метрологической лаборатории, в условиях автоматизированногопроизводства очистка каждой детали - трудоемкая или дорогостоящая операция,значительно повышающая себестоимость изделия. Поэтому необходимо изысканиеспособа измерения, который позволил бы контролировать параметры загрязненныйдеталей с приемлемой точностью или сократить затраты на очистку деталей 1 . Погрешность измеренияоптоэлектронными многоканальными системами деталей с поверхностью, загрязненнойпленкой смазочно-охлаждающей жидкости, выражается в уменьшении амплитудыотраженного от детали излучения вследствие поглощения в пленкесмазочно-охлаждающей жидкости.
Предлагается два пути учета и сниженияпогрешности измерения от наличия пленки смазочно-охлаждающей жидкости.
Первыйпуть заключается в организации измерений методом опорный канал -измерительный канал , второй заключается в анализе измерительнойинформации, полученной по одному измерительному каналу.Сущность первого способа сниженияпогрешности заключается в том, что смазочно-охлаждающие жидкости на различныхдлинах волн имеют существенно различающееся поглощение, поэтому подборомзначений длин волн опорного и измерительного каналов можно добиться появленияразности амплитуд сигналов опорного и измерительного каналов при наличии наповерхности детали пленки смазочно-охлаждающей жидкости.
Таким образом,оптоэлектронная многоканальная система будет вырабатывать измерительнуюинформацию и о параметрах измеряемой детали, и о состоянии ее поверхности. Разностьамплитуд отраженного сигнала на опорном и измерительном каналах пропорциональнатолщине пленки смазочно-охлаждающей жидкости.Сущность второго способа сниженияпогрешности измерения от наличия пленки смазочно-охлаждающей жидкости наповерхности детали заключается в анализе функции измерительного преобразованиядатчика измерительного канала оптоэлектронной многоканальной системы.
Например,функция измерительного преобразования рефлектометрического оптрона приизмерении любых чистых участков детали неизменна и имеет холмообразный вид сединственной вершиной . При измерении участков детали, загрязненных пленкойсмазочно-охлаждающей жидкости вид функции качественно не меняется, но максимумфункции измерительного преобразования уменьшается вследствие поглощенияизлучения пленкой смазочно-охлаждающей жидкости.
В случае, если значениемаксимума совпадает со значением максимума для эталонной детали без пленкисмазочно-охлаждающей жидкости , то делают вывод о том, что поверхность деталине загрязнена.Если же значение максимума функции измерительного преобразованияменьше, чем для эталонной детали, то делают вывод о том, что на поверхностидетали присутствует пленка смазочно-охлаждающей жидкости и измерение параметровдетали оптоэлектронной многоканальной системой будет вестись с погрешностью.
Оба способа снижения погрешностиявляются составной частью специфической информационной технологии,представляющей собой совокупность аппаратных средств измерительныепреобразователи, спектрофотометр и компьютер и программного обеспечения программы, анализирующие сигналы и спектры . Таким образом, информационныетехнологии заняли в производственном процессе место наравне с технологическойоснасткой и средствами измерения и по праву могут считаться полноценнойсоставной частью современного автоматизированного машиностроительногопроизводства.ЛИТЕРАТУ РА 1. В Телешевский В.И. Оптоэлектронные многоканальные измерительныесистемы.
Вестник машиностроения, 1995, 11, с. 51 - 53.