рефераты конспекты курсовые дипломные лекции шпоры

Раздел Полиграфия
/
Микроскоп металлографический

Реферат Курсовая Конспект

Выберите учебное заведение

Микроскоп металлографический

Микроскоп металлографический - раздел Полиграфия, Цель Работы: Ознакомление С Металлографическим Методом Иссле...

Цель работы: ознакомление с металлографическим методом исследования полупроводников и определение плотности дислокаций.

Принадлежности к работе:

- микроскоп металлографический;

- образцы полупроводниковых пластин.

Краткие теоретические сведения

Совершенство структуры реальных кристаллов нарушается присутствием различных дефектов: - нуль-мерных или точечных дефектов (вакансии, атомы в междоузлиях, сочетание… - одномерных или линейных дефектов (дислокации);

Определение плотности дислокаций в кристалле

Устройство микроскопа.

8 – линза; 9 – окуляр; 10 – диафрагма темного поля; 11 – кольцевое зеркало; 12 – параболический коллектор; 13 призма о

ИЗУЧЕНИЕ МИКРОСТРУКТУРЫ И ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПЛОТНОСТИ ДИСЛОКАЦИИ НА ПОВЕРХНОСТИ ПОЛУПРОВОДНИКОВОЙ ПЛАСТИНЫ

Выполнил: Проверила:

Учащийся гр.21192 Щербакова Татьяна Олеговна

Тимощенко Максим Николаевич

Минск 2013

Развернуть

Открыть в широком формате

– Конец работы –

Используемые теги: микроскоп, металлографический0.051

Если Вам нужно дополнительный материал на эту тему, или Вы не нашли то, что искали, рекомендуем воспользоваться поиском по нашей базе работ: Микроскоп металлографический

Что будем делать с полученным материалом:

Если этот материал оказался полезным для Вас, Вы можете сохранить его на свою страничку в социальных сетях:

Еще рефераты, курсовые, дипломные работы на эту тему:

Изучение металлографического микроскопа и ознакомление с методикой изготовления микрошлифов
Список рекомендуемой литературы для самоподготовки... Кузьмин Б А и др Технология металлов и конструкционные материалы Учебник... Самаходский А И Куняевский М Н Лабораторные работы по металловедению и термической обработке металлов Учебное...

Исследование микроскопа
На сайте allrefs.net читайте: "Исследование микроскопа"

Оптические методы НК. Прямой контроль в оптической (световой) микроскопии
При изготовлении изделий микроэлектроники применяются различные материалы (металлы, полупроводники, диэлектрики), которые по разному взаимодействуют… По физическим методам, с помощью которых извлекается информация о… Волновые свойства света. Монохроматический луч света представляется как плоскопараллельная электромагнитная волна с…

Радиоволновые, радиационные методы контроля РЭСИ. Методы электронной микроскопии
Область применения СВЧ-методов радиоволнового вида неразрушающего контроля приведен в таблице 1 и в ГОСТ 23480-79. Табл. 1 – Радиоволновые методы… Из¬менение зазора между антеной преобразователя и поверхностью конт-роля.… Неоднознач¬ность отсчета при изменении толщины более 0,5А,Е Измене¬ние диэлектри¬ческих свойств материала объек-тов…

Микроскоп
Приблизительно вто же время, когда началось исследование космоса с помощью телескопов, былисделаны первые попытки раскрыть, с помощью линз тайны… Так, приархеологических раскопках в Древнем Вавилоне находили двояковыпуклые… Его можно считать изобретателем микроскопа, состоящего изположительной и отрицательной линз.Более совершенным…

Дифракция электронов. Электронный микроскоп
Глаз не видел бы Солнца, если бы он не был подобен Солнцу. Гте XVII 1 D 1 j sin 1,22D 2 d , M 2 1 1 0,61D 1D0,61 1,5800 A Напомним, что 1… М Знание, 1968. Савельев И.В. Курс физики, т.3. М Наука, 1989. Рисунки.

0.029