Цель работы: ознакомление с металлографическим методом исследования полупроводников и определение плотности дислокаций.
Принадлежности к работе:
- микроскоп металлографический;
- образцы полупроводниковых пластин.
ИЗУЧЕНИЕ МИКРОСТРУКТУРЫ И ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПЛОТНОСТИ ДИСЛОКАЦИИ НА ПОВЕРХНОСТИ ПОЛУПРОВОДНИКОВОЙ ПЛАСТИНЫ
Выполнил: Проверила:
Учащийся гр.21192 Щербакова Татьяна Олеговна
Тимощенко Максим Николаевич
Минск 2013