Ионизация лазерной десорбцией с поверхности кремния

В противоположность MALDI ионизация лазерной десорбцией с поверхности не содержит матрицы как таковой. Она осуществляется с поверхности твердого кремния и получила название DIOS (английская аббревиатура от Desorption/Ionization on Silicon). Поверхность структурированного кремния, такого, как пористый кремний или кремниевое нановолокно, является полупроводником с большой площадью поверхности и сильно поглощают УФ-излучение в области 340 нм. При применении в масс-спектрометрии с лазерной десорбцией/ионизацией, строение структурированного кремния обеспечивает каркас для накопления молекул растворителя и вещества, а поглощение УФ-излучения обеспечивает передачу энергии лазера исследуемым молекулам. В отличие от других прямых безматричных методов десорбции DIOS позволяет проводить десорбцию/ионизацию с малым разложением исследуемых молекул или вообще без него. Такая ионизация имеет очень высокую чувствительность и позволяет анализировать вещество на уровне всего 800 йоктомолей (480 молекул). Напоминаем, что один йоктомоль равен 10^-24 моля. Лазерная десорбция с поверхности кремния схематически представлена на рисунке 7.12.

 

Рис. 7.12. Лазерная десорбция с поверхности кремния