Реальная интенсивность

Теоретически рассчитанные значения интенсивности рассеянного излучения всегда оказываются больше реального значения. Это обусловлено тем, что расчеты проводятся в рамках кинематической теории рассеяния. Существует ряд поправок на невыполнимость допущений, сделанных в рамках этой теории. В этом случае выражение для интенсивности может быть записано в виде

,

где – множитель Лоренца, – он учитывает тот факт, что отражение лучей происходит от узловых плоскостей кристалла не только в направлении, определенном точным значением брегговского узла q, но в некотором интервале углов q ± Dq. Это приводит к уширению дифракционных максимумов; – полихроматический множитель, учитывающий, что интенсивность возрастает при увеличении длины волны излучения. Это дает преимущества при использовании мягких рентгеновских лучей для структурного анализа; – тепловой множитель, учитывающий тепловые колебания атомов. Тепловые смещения атомов из положения равновесия могут достигать значительной величины. Это приводит к заметному изменению разности фаз между падающим и рассеянным излучением, что сказывается на интенсивности рефлексов; – абсорбционный множитель, учитывающий поглощение лучей кристаллом; – фактор повторяемости, учитывающий число плоскостей {hkl}, участвующих в формировании дифракционной картины.

Все рассмотренное на примере взаимодействия рентгеновских лучей с кристаллической решеткой может быть в равной мере отнесено и к другим видам излучения.

Вид излучения и способ получения дифракционной картины выбираются в зависимости от постановки задачи и объекта исследования.