рефераты конспекты курсовые дипломные лекции шпоры

Реферат Курсовая Конспект

Перечень используемых обозначений

Работа сделанна в 1999 году

Перечень используемых обозначений - Курсовая Работа, раздел Связь, - 1999 год - Расчёт и проектирование маломощных биполярных транзисторов Перечень Используемых Обозначений. Ak - Площадь Коллектора Аэ - Площадь Эмите...

Перечень используемых обозначений. Ak - площадь коллектора Аэ - площадь эмитера a - градиент концентрации примесей - отношение подвижностей электронов и дырок Сз.к зарядная барьерная емкость коллекторного перехода Сд.э - диффузионная емкость эмитерного перехода Сз.э - зарядная барьерная емкость эмитерного перехода Дп, Др - коэффициенты диффузии электронов и дырок Днб, Доб - коэффициенты диффузии не основных и основных носителей в базе Днэ, Доэ - коэффициенты диффузии не основных и основных носителей в эмиттере Е - напряженность электрического поля - ширина запрещенной зоны - частота - граничная частота коэффициента передачи тока в схеме с общей базой Т - граничная частота коэффициента передачи тока в схеме с общим эмитером max - максимальная частота генерации hkp - толщина кристалла hэ, hk - глубина вплавления в кристалл эмитера и коллектора Ln, Lp - средние диффузионные длины электронов и дырок Lнб, Lнэ средние диффузионные длины не основных носителей в базе и эмитере Nб, Nk, Nэ - концентрации примесей в базе, коллекторе и эмитере сплавного транзистора Nб х - концентрация примеси, формирующей проводимость базы дрейфового транзистора Nэ x - концентрация примеси, формирующей проводимость эмиттера дрейфового транзистора ni - равновесная концентрация электронов в собственном полупроводнике nn, np - равновесные концентрации электронов в полупроводниках n - типа и p - типа Р - мощность, рассеиваемая в коллекторе Pk max - предельно допустимая мощность, рассеиваемая в коллекторе Рэ - периметр эмитера Рn, Рp - равновесные концентрации дырок в полупроводниках n -типа и p - типа Rб, Rэ, Rк - радиусы электродов базы, коллектора, эмитера Rm тепловое сопротивление rб - эквивалентное сопротивление базы rб, rб - омическое и диффузное сопротивление базы rэ - сопротивление эмитера без учета эффекта Эрле rэ - сопротивление эмитера с учетом эффекта Эрле S - скорость поверхностной рекомбинации Т - абсолютная температура Тк - температура корпуса транзистора Тmax - максимально допустимая температура коллекторного перехода W - геометрическая толщина базы Wg - действующая толщина базы Uэб - напряжение эмитер-база Uкб - напряжение коллектор-база Ukpn - контактная разность потенциалов Uпроб - напряжение пробоя Uпрок - напряжение прокола транзистора Uк - напряжение коллекторного перехода Uk max - максимально допустимое напряжение на коллекторе Iэ - ток эмитера Iб - ток базы Iко - обратный ток коллектора при разомкнутом эмиттере Ikmax - максимально допустимый ток коллектора Iген - ток термогенерации в области объемного заряда Iрек - ток рекомбинации - коэффициент передачи тока в схеме с общей базой о - низкочастотное значение - коэффициент усиления тока коллекторного перехода за счет не основных носителей заряда - коэффициент передачи тока в схеме с общим эмитером - коэффициент инжекции эмитера бк - толщина коллекторного перехода - относительная диэлектирическая проницаемость о - коэффициент переноса не основных носителей заряда через область базы э, б - подвижности электронов и дырок нб, об - подвижности не основных и основных носителей заряда в базе нэ, оэ - подвижности не основных и основных носителей заряда в эмитере - круговая частота - удельное сопротивление полупроводника i - удельное сопротивление собственного полупроводника э, б, к - удельные сопротивления эмитера, базы, коллектора n, p - среднее время жизни электронов и дырок np - время пролета не основных носителей заряда через базу n - среднее время жизни носителей заряда, обусловленное поверхностной рекомбинацией - удельная теплопроводность 4.

– Конец работы –

Эта тема принадлежит разделу:

Расчёт и проектирование маломощных биполярных транзисторов

В 1923-1924 гг. Лосев О.В. обнаружил наличие отрицательного дифференциального сопротивления и явление люминесценции в точечных контактных… В 1940 году был изготовлен первый точечный диод. В 1948 году американский… В 1956 г. началось производство транзисторов с базой, полученной методом диффузии.

Если Вам нужно дополнительный материал на эту тему, или Вы не нашли то, что искали, рекомендуем воспользоваться поиском по нашей базе работ: Перечень используемых обозначений

Что будем делать с полученным материалом:

Если этот материал оказался полезным ля Вас, Вы можете сохранить его на свою страничку в социальных сетях:

Все темы данного раздела:

ОБЩАЯ ЧАСТЬ
ОБЩАЯ ЧАСТЬ. Техническое задание. Техническое задание содержит требования к параметрам и условиям эксплуатации практикуемого прибора. В данном случае наиболее существенны следующие параметры 1. Ном

Выбор технологии изготовления транзистора
Выбор технологии изготовления транзистора. Основным элементом конструкции транзистора является кристалл, или транзисторная структура кристалла, которая представляет собой полупроводниковую пластину

Сплавно-диффузионные транзисторы
Сплавно-диффузионные транзисторы. При диффузионной технологии неоднородность эмиттерной поверхности приводит к неоднородности толщины базовой области, что ухудшает возможные частотные свойст

ОСНОВНАЯ ЧАСТЬ
ОСНОВНАЯ ЧАСТЬ. Расчёт сплавно-диффузионного транзистора. Задачи расчёта В результате расчёта должны быть определены электрофизические и геометрические параметры транзисторной структуры, пар

Расчёт толщины базы и концентраций примесей
Расчёт толщины базы и концентраций примесей. Действующая толщина базы определяется соотношением 1 1 где tпр-время пролёта базы tпр , 2 где - коэффициент запаса по частоте f, 1,3 сек. Задавшись вели

Расчет емкостей и размеров переходов
Расчет емкостей и размеров переходов. Задача Определить барьерные зарядные емкости и величины поверхности коллекторного и эмитерного переходов, а так же геометрические размеры полупроводниковой пла

Расчет сопротивлений ЭС и граничных частот
Расчет сопротивлений ЭС и граничных частот. Задача определение сопротивлений эквивалентной схемы, дифференциальных, диффузионных и омических сопротивлений ЭС транзистора. Рис. 3. Эквивалентн

Расчет обратных токов коллектора
Расчет обратных токов коллектора. Задача определить обратный ток коллекторного перехода Iк.обр. Обратный ток коллекторного перехода состоит из 3х компонент теплового тока тока термогенерации тока о

Расчет параметров предельного режима и определение толщины элементов кристаллической структуры
Расчет параметров предельного режима и определение толщины элементов кристаллической структуры. Задача Определение величины Ikmax или Pkmax, а также толщины кристалла - заготовки и других элементов

Расчёт эксплутационных параметров
Расчёт эксплутационных параметров. Максимальная расчётная мощность находится по формуле 49 , 49 мВт 5.7.2 Рассчитаем максимальное напряжение коллектора воспользовавшись соотношением 50 Uк max , 50

Выбор корпуса транзистора
Выбор корпуса транзистора. Конструктивно корпус состоит из двух основных элементов основания и баллона. Основание включает в себя фланец, изолятор и выводы. Баллон представляет собой

Обсуждение результатов
Обсуждение результатов. Коэффициент передачи тока в схеме с ОЭ 65, рассчитанное значение 150,7364. Данный биполярный транзистор в схеме с ОЭ обеспечит заданный коэффициент передачи тока. 2. Граничн

Хотите получать на электронную почту самые свежие новости?
Education Insider Sample
Подпишитесь на Нашу рассылку
Наша политика приватности обеспечивает 100% безопасность и анонимность Ваших E-Mail
Реклама
Соответствующий теме материал
  • Похожее
  • Популярное
  • Облако тегов
  • Здесь
  • Временно
  • Пусто
Теги